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研究室の装置紹介



横山研究室には、有機半導体材料を成膜し、評価するための
いろいろな装置が揃っています。
各リンクをクリックすると、装置の写真と簡単な説明が表示されます。

成膜装置

分子線エピタキシー (MBE)
真空蒸着装置
スピンコーター
イオン・スパッタ蒸着装置
オスミウム・プラズマ・コーター
透明電気炉
昇華精製
ミクロトーム(超薄切片作製装置)
 

薄膜評価、分析装置

SPM
(走査型プローブ顕微鏡)
原子間力顕微鏡 (AFM)
導電性AFM(AFM電流同時測定)
走査型トンネル顕微鏡 (STM)
ケルビンフォース顕微鏡 (KFM)
卓上小型プローブ顕微鏡 (Nanopics)
走査型電子顕微鏡 (SEM)
X線回折装置 (XRD)
X線光電子分光測定装置 (XPS)
大気雰囲気型紫外光電子分析装置 (AC-1)
エリプソメトリー
触針式段差計
赤外吸収スペクトル (FT-IR)
紫外・可視吸収スペクトル
 

性能評価測定装置

光電流測定装置
フォトリフラクティブ評価 (四光波混合系)
TOF(Time Of Flight)測定 (アニメーション付き)
静電気帯電評価 (EPA)
ソーラーシミュレーター
****マルチチャンネル分光測定
 

その他

ペイントシェーカー(Red Devil)
ボールミル
遠心分離器


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