横山研究室top -> 研究室の装置紹介 -> 走査型電子顕微鏡(SEM)

主に表面観察(撮影)を行う装置で、電子ビームを試料に照射すると、物質を入射電子の相互作用によりいろいろな量子が発生し、試料面上の状態変化に応じてその発生量も変化します。発生した反射電子及び二次電子を検出器で捕らえ、電気信号に変換し、電子ビームの走査とCRT走査を同期することによって像を得ることができます。

髪の毛のSEM像 参考画像(800倍) Y賀君の頭髪をSEM装置で観察したものです。よくシャンプーのCMで見られるような毛髪のキューティクルを見るための画像にSEM像が用いられています。このことから、山G君の頭髪は太さ約100μmであり(個人差有り)、表面は比較的きれいな？？髪であることが確認できます。本研究室のSEM装置では、最大15万倍まで観測可能であり、人間の目ではとらえられない表面を見ることが出来ます。