横山研究室top -> 研究室の装置紹介 -> X線回折装置(XRD)

 測定試料の結晶性を測定します。結晶性の試料にX線を照射すると、ブラック反射によりX線が反射されて出てきます。検出されたX線の強さなどから結晶の大きさなどがわかります。
 
フタロシアニン薄膜のX線回折
左図はフタロシアニンと呼ばれる物質の薄膜のX線回折測定結果です。縦軸は観測されたx線の強度で、結晶性の高い試料ほど強くてシャープなピークが出てきます。また、横軸は結晶格子の周期に対応します。薄膜中に小さな結晶がたくさん存在するためにピークが観測されているのが分かります。